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基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强

王王子靖

王王子靖. 基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强[J]. 中国光学(中英文). doi: 10.37188/CO.CO-2024-0197
引用本文: 王王子靖. 基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强[J]. 中国光学(中英文). doi: 10.37188/CO.CO-2024-0197
基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强[J]. Chinese Optics. doi: 10.37188/CO.CO-2024-0197
Citation: 基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强[J]. Chinese Optics. doi: 10.37188/CO.CO-2024-0197

基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强

基于金属基底非对称介质超光栅的太赫兹宽带吸收谱增强

  • 摘要: 摘 要:太赫兹分子指纹谱是一种非常有潜力的无标记检测方法,在实际应用往往需要对微量甚至痕量样品检测。然而太赫兹波的波长远远大于待测分子的尺寸,导致波与痕量物质之间的相互作用较为微弱,需要额外结构来增强样品对电磁波的吸收。本文在金属基底上构造了倒置的非对称介质光栅结构,该结构利用导模共振(Guided-mode resonance,GMR)和连续域束缚态(Bound state In Continuum,BIC)显著提升了薄膜样品的太赫兹吸收谱。同时仅需测量反射吸收信号就可以得到薄膜增强吸收谱,而且样品涂覆于倒置的介质光栅平坦的背面,易于制备。当该结构用于0.2 μm的α-乳糖薄膜厚度为时,吸收谱幅度增强达到236倍。该结构为太赫兹波段痕量分析物的检测提供了一种新的方法。 关键词:太赫兹;指纹谱;吸收增强;超光栅;金属基底

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2024-10-21
  • 修回日期:  2024-12-16
  • 录用日期:  2024-12-17
  • 网络出版日期:  2025-01-21

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