目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

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目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

胡剑虹 , 宁飞 , 沈湘衡 , 贺庚贤

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胡剑虹, 宁飞, 沈湘衡, 贺庚贤. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. 中国光学, 2010, 3(2): 152-156.

引用本文:

胡剑虹, 宁飞, 沈湘衡, 贺庚贤. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. 中国光学, 2010, 3(2): 152-156.

HU Jian-hong, NING Fei, SHEN Xiang-heng, HE Geng-xian. Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers[J]. Chinese Optics, 2010, 3(2): 152-156.

Citation:

HU Jian-hong, NING Fei, SHEN Xiang-heng, HE Geng-xian. Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers[J]. Chinese Optics, 2010, 3(2): 152-156.

目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

1.
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林长春 130033;
2.
中国科学院研究生院，北京 100039

通讯作者: 胡剑虹

Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers

1.
Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun 130033,China;
2.
Graduate University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100039,China

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Corresponding author: HU Jian-hong

摘要: 介绍了红外热像仪测温原理，分析了影响红外热像仪测温精度的因素，计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线。理论分析表明，目标表面发射率越高，红外热像仪测温精度越高。实验改变表面发射率的设置，计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度，得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时，目标表面发射率必须大于0.5的结果。最后，对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温，结果表明，材料表面发射率较高时，红外热像仪具有较好的测温精度。
- 表面发射率 /
- 红外热像仪 /
- 红外测温 /
- 测温精度
Abstract: The theory of temperature measurement by infrared imagers is introduced and the factors that influence the accuracy of infrared temperature measurement are analyzed. The error curves of temperature measurement at different surface emissivities are given. Using theoretical analysis, it is shown that the higher the surface emissivity of an object is, the more accurate the measuring accuracy of imager is. By changing the setting of surface emissivity, the corresponding total radiance luminance to surface emissivity is calculated. Analysing the results, the conclusion indicates that TP8 long wave thermal infrared imager can measure the temperature accurately when the surface emissivity is above 0.5. Finally, three materials whose surface emissivity is 0.96, 0.93 or 0.3 are measured, respectively, and the result shows that a higher surface emissivity leads to a better temperature measuring accuracy.
- surface emissivity /
- infrared thermal imager /
- infrared temperature measurement /
- temperature measuring accuracy

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目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响

1. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林长春 130033;

2. 中国科学院研究生院，北京 100039

通讯作者: 胡剑虹

收稿日期: 2010-02-14
修回日期: 2010-03-13
刊出日期: 2010-04-20

关键词:

表面发射率 /

红外热像仪 /

摘要: 介绍了红外热像仪测温原理，分析了影响红外热像仪测温精度的因素，计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线。理论分析表明，目标表面发射率越高，红外热像仪测温精度越高。实验改变表面发射率的设置，计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度，得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时，目标表面发射率必须大于0.5的结果。最后，对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温，结果表明，材料表面发射率较高时，红外热像仪具有较好的测温精度。

English Abstract

胡剑虹, 宁飞, 沈湘衡, 贺庚贤. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. 中国光学, 2010, 3(2): 152-156.

引用本文:

胡剑虹, 宁飞, 沈湘衡, 贺庚贤. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. 中国光学, 2010, 3(2): 152-156.

HU Jian-hong, NING Fei, SHEN Xiang-heng, HE Geng-xian. Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers[J]. Chinese Optics, 2010, 3(2): 152-156.

Citation:

HU Jian-hong, NING Fei, SHEN Xiang-heng, HE Geng-xian. Influence of surface emissivity of objects on measuring accuracy of infrared thermal imagers[J]. Chinese Optics, 2010, 3(2): 152-156.

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